仪器名称：小角X射线散射仪
厂家：法国Xenocs SA公司
型号：Nano-InXider
放置位置：常山港院区A楼101
所属部门：分析测试中心
仪器操作联系人：彭毅（15603999835，2433554980@qq.com）
郑映（15757171225，yzheng1@zju.edu.cn）
主要技术指标：
温度测量范围：-100℃~320℃
光源类型：高亮度微焦斑固定靶点光源，靶材Cu,功率30W
最大功率密度≥8.0 KW/mm2
靶上焦斑直径≤30μm
小角探测器信号采集面积：70mm×83.8 mm
广角探测器信号采集面积83.8 mm×33.5mm
点扩散函数PSF≤1个像素
探测器量子效率≥98%
升降温速率：0.1-100oC/min
2θ角度范围：0.03°至60°二维图谱
实际测试的样品纳米粒径尺寸：≥250 n
功能特色与应用范围：
研究物质在纳米尺度上（1-100nm）的几何结构，测定散射体的形状、尺寸及其分布。适用于从液体到固体的多种形态，可以得到诸如纳米粒度分布、形貌、结晶、取向、比表面等纳米结构信息，以研究物质性能与其结构的关系，以及在不同加工条件下的动态结构变化。可以测量的材料范围非常宽。如：聚合物、胶体、液晶、纤维、金属以及生物材料。对样品的适用范围非常宽，一般情况下，液体、粉末、薄膜、块体材料，甚至活体都可以测试；在研究液体时最为方便。
可做小角X射线散射（SAXS）、广角X射线散射（WAXS）、掠入射（GISAXS）、原位变温（-100~320℃）、原位拉伸(应力范围0-200N，变温范围-100~230℃)等实验。
送样须知：
样品可为粉末、薄膜、块体材料等，若需测液体样品或原位变温、拉伸请联系管理老师后再送样检测，掠入射测试需提前一周预约；
送样前请填写附表的检测申请单（院内）或委托协议单（院外）。
