X射线实验室-小角X射线散射仪

发布者:周玉立发布时间:2022-10-26浏览次数:7




仪器名称:小角X射线散射仪

厂家:法国Xenocs SA公司

型号:Nano-InXider

放置位置:常山港院区A101

所属部门:分析测试中心

仪器操作联系人:彭毅(156039998352433554980@qq.com

   郑映(15757171225yzheng1@zju.edu.cn


主要技术指标:

温度测量范围:-100℃~320℃

光源类型:高亮度微焦斑固定靶点光源,靶材Cu,功率30W

最大功率密度≥8.0 KW/mm2

靶上焦斑直径≤30μm

小角探测器信号采集面积:70mm×83.8 mm

广角探测器信号采集面积83.8 mm×33.5mm

点扩散函数PSF≤1个像素

探测器量子效率≥98%

升降温速率:0.1-100oC/min

角度范围:0.03°60°二维图谱

实际测试的样品纳米粒径尺寸:≥250 n


功能特色与应用范围:

研究物质在纳米尺度上(1-100nm)的几何结构,测定散射体的形状、尺寸及其分布。适用于从液体到固体的多种形态,可以得到诸如纳米粒度分布、形貌、结晶、取向、比表面等纳米结构信息,以研究物质性能与其结构的关系,以及在不同加工条件下的动态结构变化。可以测量的材料范围非常宽。如:聚合物、胶体、液晶、纤维、金属以及生物材料。对样品的适用范围非常宽,一般情况下,液体、粉末、薄膜、块体材料,甚至活体都可以测试;在研究液体时最为方便。

可做小角X射线散射(SAXS)、广角X射线散射(WAXS)、掠入射(GISAXS)、原位变温(-100~320℃)、原位拉伸(应力范围0-200N,变温范围-100~230℃)等实验。


送样须知

样品可为粉末、薄膜、块体材料等,若需测液体样品或原位变温、拉伸请联系管理老师后再送样检测,掠入射测试需提前一周预约;

送样前请填写附表的检测申请单(院内)或委托协议单(院外)。