仪器名称:高分辨透射电子显微镜
型号:Talos F200X
放置位置:常山港院区B楼101
所属部门:分析测试中心
仪器联系人:黄利坚15268052097
主要技术指标:
加速电压:200 KV和80KV
电子枪亮度:1.8*109 A/cm2srad
TEM信息分辨率:0.12nm
TEM放大倍率:50
~1.05M
多探头同时成像HAADF, 同轴BF/DF, 配DPC, iDPC功能
STEM HAADF像分辨率:0.16 nm
STEM放大倍率:310
~ 320M
Super-X EDS 系统,无窗式30mm2 SDD探测器×4
EDX能量分辨率: 136 eV (Mn-Ka)
低剂量曝光
三维重构功能
应用范围:
1、材料形貌、电子衍射、高分辨图像及成分分析
2、材料原子结构分析(重、轻原子)
3、三维结构分析
主要特点:
融合了卓越的高分辨率STEM 和 TEM 成像, 利用智能扫描引擎、基于多个STEM 探测器的四通道合并技术,以及微分相位衬度(DPC/iDPC)成像技术,可以快速、准确地分析材料的结构、成分信息,并配备了原位加热及三维重构样品杆。
TEM测试样品要求:
1、需按要求填写检测申请单或委托协议(见附件);
2、试运行期间只测试200KV常规TEM形貌、HRTEM、STEM和EDS能谱,暂不提供其它较为特殊的测试服务,如80KV加速电压测试等;
3、不接收磁性样品,含铁钴镍锰等元素的样品请提前告知管理员,以免磁性样品永久性地污染镜筒,造成电子光路干扰;
4、不接受易燃易爆、腐蚀性、易挥发性和放射性样品,以免危害人员安全和仪器安全;
5、样品需要做超薄切片和冷冻超薄切片,需提前一周联系仪器负责人;
6、如有其他疑问,请联系仪器负责人。