分析测试中心┃X射线光电子能谱仪试运行通知

近期，分析测试中心X-射线光电子能谱仪已安装调试完毕，部分功能具备开放共享条件，2023年12月18日起至1月15日面向全院开放试运行，试运行期间院内按三折收费，欢迎大家送样测试。

一、仪器信息

仪器名称：X射线光电子能谱仪

厂家：岛津 Shimazu

型号：Kratos AXIS Supra+

放置位置：常山港院区A楼108

所属部门：分析测试中心

负责人：黄利坚

仪器操作联系人：黄利坚15268052097/ 黄楚云 18857667099 / 蒋倩倩 17812033760

二、主要配置及技术指标

X射线能谱仪配备单色Al/Ag靶、氩团簇离子枪、紫外光电子能谱UPS、空气敏感样品转移器等功能附件，具备单色化XPS、小面积XPS、角分辨XPS、成像XPS及UPS等功能。

XPS能谱的主要技术指标如下：

1. Al单色XPS指标(Ag 3d5/2峰半高全宽@强度，测试功率300W)：

大束斑（300μm×700μm矩形）能量分辨率和灵敏度：0.45eV@160kcps、0.6eV@2.5Mcps；

小束斑(Φ15μm)能量分辨率和灵敏度：0.48eV@15kcps、 0.6eV@25kcps；

2. 绝缘体中和效果，能量分辨率和灵敏度优于(PET，O-C=O的C 1s峰半高宽@C-C/C-H的C 1s峰强度，测试功率300W)：

大束斑(700μm×300μm)： 0.68eV@30kcps、 0.77eV@70kcps;

小束斑(Φ15μm)： 0.82eV@0.5kcps。

三、应用范围

1. 固体表面浅层(约1-10nm)元素种类及其化学态的定性和半定量分析

2. 材料梯度剖析：材料深度方向（几十至几百纳米）的元素及其化学态分析

3. 材料小面积XPS、角分辨XPS、成像XPS及紫外光电子能谱分析

四、XPS测试样品须知

1.需按要求填写检测申请单或委托协议，对样品的描述和测量要求需要详细注明，必须填写测量哪些元素窄谱、大致含量、均一还是核壳结构、是否需要刻蚀、是否易磁化吸引、是否易氧化、是否易吸附气体等等；

2.氢和氦元素不能检测；

3.磁性样品需单独进样以污染分析器镜筒；

4.均一的样品越细越好，颗粒度大可自行研磨成细粉或压片（有改变样品化学态的风险）后送样；块状样品需切割成片状（厚度不大于5mm，横向范围也不大于10mm）；

5.样品需预先干燥，不得含易挥发性物质（如水、有机挥发物、单质S、P、I、As、碱金属等），以免污染仪器真空系统；

6.不接受易燃易爆、腐蚀性（比如脱附有或分解后会产生腐蚀性气体）和放射性样品，以免危害人员和仪器安全；

7.平时优先安排常规能谱测试，较为复杂的测试比如惰性气氛下进样将统筹安排时间；

8.数据将以xlsx或vms格式保存并发送，接收数据后需自行用软件进行峰位校准（按284.6 eV 标准C 1s峰位移动谱图），并做其它处理；

9.如有其他疑问，请联系仪器相关负责人。

五、收费参考标准